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            超低溫高精X射線粉末衍射儀

            簡要描述:Guinier超低溫高精X射線粉末衍射儀運用成像板技術,通過成熟的工藝技術,配合溫度調節配件,可對低低至4K的粉末樣品進行X射線衍射分析。

            • 產品型號:G670.4
            • 廠商性質:代理商
            • 更新時間:2020-07-21
            • 訪  問  量:1958

            詳細介紹

                德國HUBER快速X射線粉末衍射儀,高精度的機械加工,ji限度地豐富了X射線衍射儀的使用場景,擴大了使用范圍,該系統可分別實現微量、高壓、高溫、超低溫、單晶測量等全部要求。

            Guinier超低溫高精X射線粉末衍射儀運用成像板技術,通過成熟的工藝技術,配合溫度調節配件,可對低低至4K的粉末樣品進行X射線衍射測量。

            以下將詳細介紹以Guinier Camera G670相機及超低溫系統Low Temperature Device670.4為核心構造的快速超低溫高精X射線粉末衍射儀。

            *的成像板技術

            由聚酯制成的柔性安裝箔上涂有由晶體組成的均勻粉末的發光存儲材料(顆粒大小約0.005mm),即由氟化鋇和微量二價銪組成的光刺激熒光粉作為發光中心(BaFBr:Eu2+)。

            圖像存儲箔片位于Guinier相機670中,敏感面向內,jing地對準在半徑為90mm的焦圓上。它的曝光方式與以前使用的濕法影印技術相同。之后,在約5秒的時間內,用垂直的線性紅色二極管產生的激光束掃描成像板。

            img2

            由此產生的藍色光激勵發光(PSL)從受X射線照射的區域發出,在掃描過程中由光電倍增管放大,然后記錄。初始的模擬信號通過一個16位的A /D轉換器轉換成數字計數。

            通過白色鹵素燈,可以在10秒內擦除已儲存的圖像結構,并支持下一次成像。

            除圖像存儲箔外,670相機的外殼還包括帶有光電倍增管和前置放大器的激光記錄單元,以及鹵素擦除燈。

            這款Guinier粉末衍射儀集成了傳統的濕法影印技術的高分辨率,及圖像板檢測技術的高靈敏度。因此,它能夠在盡可能短的時間內提供數字粉末衍射圖,然后可以通過Rietveld分析或類似的方法進一步處理。

            所提供的測量軟件在MS-Windows下運行,并將多可達20001個計數點的衍射圖文件存儲成各類標準文件格式。

            超低溫裝置

            Low Temperature Device 670.4

             

            img3

            粉末樣品,可以在約12K350 K之間進行研究。與標準樣品臺670.1類似,粉末被夾在兩層聚酯薄膜之間。

            冷卻裝置具有完整的幾何設計結構,透射角為45°。樣品被封裝在一個冷卻的銅塊中,銅塊周圍有兩個冷卻罩。樣品由位于低溫恒溫箱外的旋轉條形磁鐵振蕩??绽鋲嚎s機為閉式循環液氦冷卻系統提供動力。溫度由硅二極管和冷卻頭中的加熱元件控制。

            調節系統由電腦和的 RS232/IEEE488控制。配有完整的真空泵系統和所有必要的設備。

             

            img11

            G670的主要技術參數:

            計數點(max.)20001

            2-Theta范圍 (max.) 100°

            2-Theta 步長:0.005°

            A/D 分辨率:16 Bit

            動態范圍(multi-scan)~200000 counts

            讀出時間:<5 sec

            擦除時間:10 sec

            焦圓半徑:90 mm.

            硬件要求

            X射線光源:0.4*8 mm2垂直細線焦點

            臺面以上橫梁高度:~275mm

            桌面面積:~600*500mm2

            19”機架,3個高度單位

             

            img12

                該系統以Guinier高分辨率相機及超低溫系統Low Temperature Device670.4主要核心組件,通過在此基礎上搭建的超低溫系統,以響應客戶超低溫條件下的粉末試樣進行高精度測量的需求。

             

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